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发布时间:2019-12-18 14:34    点击数:

HAST高压加速寿命老化试验箱产品详情

  • 产品简介: HAST高压加速寿命老化试验箱产品详情用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状
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HAST高压加速寿命老化试验箱产品详情  
用于调查分析何时出现电子元器件,和机械零件的摩耗和使用寿命的问题,使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状,以及分析失效率上升的原因所进行的试验。随着半导体可靠性的提高,目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效,因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间,采用了压力蒸煮锅试验方法。压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型:即HAST和USHAST(HAST)现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。
 HAST高压加速寿命老化试验箱产品详情
HAST高压加速寿命老化试验箱型号技术参数:HAST-30、HAST-40、HAST-50、HAST-60  
规格内:ф30x45、ф45x50、ф55x60、ф65x70  
温度范围:+100℃~132℃  
湿度范围:可调100%RH饱和蒸气固定  
压力范围:环境大气压+0.5—2kg/cm2  
 
HAST高压加速寿命老化试验箱性能:操作环境需在室温30℃以下且通风良好之条件下进行.  
1.温度范围:110℃/132℃.(饱和蒸气温度).  
2.湿度范围:100%RH.(饱和蒸气湿度).  
3.压力范围:0.5Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制点压力(压力容量3.5Kg/cm2).  
4.时间范围:0~999小时可调.  
5.温度分布:(+/-)2.0℃.  
6.升温时间:RT~132℃约35分钟内.(控制点温度)  
7.加压时间:0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2约40分钟内(控制点压力)。  
 
HAST高压加速寿命老化试验箱控制系统:  
1.微电脑饱和蒸气温度+时间+压力显示独立控制器.  
2.本系统符合高压加速老化之可靠度试验规格:CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、NACE、UL、MIL…  
3.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.  
4.控制方式:微电脑PID控制.  
5.控制精度:(+/-)0.5℃.  
6.解析精度:0.1℃.  
循环方式:饱和水蒸气自然对流循环方式.  
温度感应器:(RTD)PT-100Ω(铂金电阻).  
加温电热器:绝缘耐压型温度电热器.  
所发布的各款试验设备价钱仅为象征性的展示,不能作为实际价,实际价钱以艾思荔业务员根据客户的要求所做的报价单为准